Charakterisierung von Oberflächen und Grenzflächen
Mikroskopie
Die im Servicelabor verfügbaren mikroskopischen Methoden (Rasterkraftmikroskopie (AFM), Rasterelektronenmikroskopie (SEM/ESEM) und Transmissionselektronenmikroskopie (TEM)) bieten die Möglichkeit, eine Vielzahl verschiedenartiger Systeme auf Mikro- und Nanometerskala zu charakterisieren. Diese sich ergänzenden Methoden ermöglichen die Einblicke in die Architektur und Funktionen von Materialsystemen.
Sorption
Bei der Charakterisierung von Oberflächen und Grenzflächen beschreibt Sorption die Analyse und Anwendung von Prozessen, mit denen sich die Eigenschaften und Wechselwirkungen von Materialien erfassen und optimieren lassen.